Terme en Anglais : spectrometry, mass, secondary ion

Définition [Traduction automatique du MeSH] : technique de-masse-spectrometric qui est utilisée pour l'analyse chimique microscopique. Une bielle d'ions primaires avec une énergie de 5-20 ¤slkiloelectronvolts¤\sl ¤sl(keV)¤\sl bombarde une petite tache sur la surface de l'échantillon dans d'ultra-hautes conditions à vide. Les ions secondaires positifs et négatifs bafouillés de la surface sont analysés dans une masse ¤slspectrometer¤\sl dans les égards à leur rapport de masse-à-charge. Le fait de refléter numérique peut être produit des bielles d'ion secondaires et leur intensité peut être mesurée. Les images ioniques peuvent être corrélées avec les images de la lumière ou d'autre microscopie fournissant des instruments utiles dans l'étude de moléculaires et les actions de médicament.

Synonyme CISMeF : sIMS ; spectrométrie de masse à ionisation des ions secondaires ; spectrométrie de masse à source d'ionisation par bombardement d'ions secondaires ; technique LSIMS.
Synonyme MeSH : Microscopie par spectrométrie de masse d'ions secondaires ; Microscopie par spectroscopie de masse d'ions secondaires ; microscopie SIMS ; spectrométrie de masse à ionisation secondaire ; spectrométrie de masse à ions secondaires ; Spectrométrie de masse des ions secondaires ; spectrométrie de masse SIMS ; spectrométrie de masse SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) ; Spectroscopie de masse à ionisation secondaire ; Spectroscopie de masse à ions secondaires ; Spectroscopie de masse des ions secondaires ; Spectroscopie de masse d'ions secondaires.