Terme en Anglais : microscopy, electron, scanning

Définition [Traduction automatique contrôlée du MeSH] : microscopie dans laquelle un objet est examiné directement par un faisceau d'électrons lisant point-par-point. L'image est construite en découvrant les interactions qui sont projetées sur un plan, comme les électrons rétrodiffusés.

Acronyme CISMeF : SEM.
Synonyme CISMeF : MEB ; SEM (Electron Scanning Microscopy).
Synonyme MeSH : MEB (Microscopie Électronique à Balayage).

Ne pas confondre avec : microscopie électronique en transmission à balayage.

Voir aussi : moulage par corrosion.

Voir aussi le(s) type(s) de ressources : microscopie électronique balayage.

Appartient au(x) Métaterme(s) : diagnostic ; diagnostic par imagerie.